electromigración

electromigración

Migración de partículas en una película delgada de aluminio o conductores de polisilicio en los límites de grano como resultado de densidades de alta corriente. electromigración puede causar ya sea una condición de circuito abierto en un conductor o un cortocircuito entre conectores adyacentes.

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품사: 명사
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분야/도메인: 반도체
카테고리: 반도체 품질
Company: National Semiconductor
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