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сонда
Electrical test of semiconductor devices at the wafer level, so named because a metal probe is used to make electrical contact with each of the device's bonding pads.
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향상
- 품사: 명사
- 동의어:
- 용어블로그:
- 분야/도메인: 반도체
- 카테고리: 반도체 품질
- Company: National Semiconductor
- 제품:
- 두문어-약어:
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