- 업종: Semiconductors
- Number of terms: 2987
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National Semiconductor Corporation designs, develops, manufactures, and markets analog and mixed-signal integrated circuits and sub-systems.
Quella porzione della zona di resistenza di un microcircuito dal quale resistenza materiale viene rimossa o modificata dalla rifilatura.
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Quella porzione del cavo del pacchetto che è all'interno della cavità del pacchetto e al quale sarà collegato il filo del legame fare contatto elettrico con il dado.
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La capacità di un dispositivo di sopportare l'esposizione alle radiazioni senza degradazione o logica sconvolto. Dispositivi bipolari tendono ad essere intrinsecamente più difficile rispetto ai dispositivi MOS.
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La tendenza insita in un dispositivo a degradare a seguito dell'esposizione alle radiazioni. Dispositivi MOS sono in genere più suscettibili di danni di radiazione che dispositivi bipolari.
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La quantità di qualsiasi tipo di radiazione ionizzante che impartirà 100 ERG di energia per grammo di silicio.
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A storage device in which the ability to access a randomly selected bit of stored data is independent of either the timing of the most recent access of that bit or the location of the most recently addressed bit. Data may be read nondestructively, but existing data is automatically erased when new data is written into a specific bit location. RAMs may be either static (that is, able to retain data when the power supplies are not biased) or dynamic (that is unable to retain data unless a "refresh" voltage is periodically applied).
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Il posizionamento di un nuovo legame sullo stesso pad o post come un legame precedentemente tentato. Se il legame originale è stato rimosso, il nuovo bond è ancora considerato un rimbalzare. Un legame-off, ovvero un legame supplementare posizionato ai margini del post (mai il pad) ai fini della compensazione la macchina di incollaggio, non è considerato un rimbalzare.
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Un dispositivo o i dispositivi scelti a caso da un sacco di materiale. Campionamento presuppone che i dispositivi scelti esporrà caratteristiche tipiche del lotto intero durante il test.
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Un set statisticamente derivato delle dimensioni dei campioni, accettare numeri e/o numeri di scarto che confermeranno che un dato molti materiali incontra stabilito AQLs o LTPDs.
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A semiconductor building block containing a relatively complex electronic function that can be combined through CAD with other cells to perform a complex function with less design effort than a complete "ground-up" design.
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